24 квітня в КПІ ім. Ігоря Сікорського відбулася 38-а Міжнародна науково-технічна конференція IEEE «ELECTRONICS AND NANOTECHNOLOGY» («Електроніка і нанотехнології») (ELNANO-2018). У роботі конференції від Інституту проблем моделювання в енергетиці ім. Г.Є. Пухова НАН України взяв участь член-кореспондент НАПН України, доктор технічних наук, професор Анатолій Федорович Верлань із науковою доповіддю “Formalization of Representation of Sequence of Test Hypotheses In Diagnosing Electronic Schemes”.
